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已知晶体电子衍射指标化中的实际问题
施洪龙; 雒敏婷; 王文忠
2015
Source Publication电子显微学报
Issue1Pages:25-32
Abstract电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一,电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此,本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的计算和米勒指数的指认等环节进行实例分析,对指标化过程中的一些常见问题进行可行性讨论,以期实现更为便捷的衍射分析。
Keyword电子衍射 指标化 衍射分析
Funding Project北京高等学校青年英才计划项目(No.YETP1297) ; 中央高校基本科研业务费专项资金资助(No.2014MDLXYQN09) ; 北京市大学生科学研究与创业行动计划(No.BEIJ2014110004) ; 中央民族大学本科生研究训练计划(No.URTP2014110037)
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/15365
Collection研究所(批量导入)
Affiliation1.中央民族大学理学院
2.中国科学院过程工程研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
施洪龙,雒敏婷,王文忠. 已知晶体电子衍射指标化中的实际问题[J]. 电子显微学报,2015(1):25-32.
APA 施洪龙,雒敏婷,&王文忠.(2015).已知晶体电子衍射指标化中的实际问题.电子显微学报(1),25-32.
MLA 施洪龙,et al."已知晶体电子衍射指标化中的实际问题".电子显微学报 .1(2015):25-32.
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