CAS OpenIR
Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能
谢裕生1; 唐子龙2; 陈运法1; 张中太2; 李英1; 龚江宏2
2002
Source Publication无机材料学报
ISSN1000-324X
Volume17.0Issue:004Pages:811
Abstract在313-473K温度范围内测定了一种Y2O3稳定ZrO2材料(YSZ)的交流电导率谱,进而导出了材料的直流电导率并分析了其随温度的变化关系。研究发现:在低温下材料的电导尖化能随温度的升高而增大。这一实验现象与在高温下所观察到的活化能随温度升高而降低规律截然相反。通过分析材料中氧空位的解缔及迁移机制,对YSZ材料中电导活化能随温度的变化关系作出了一个合理的解释。
KeywordZrO2基固体电解质 离子电导率 电导活化能 缺陷缔合 二氧化锆 氧化钇
Language英语
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/47102
Collection中国科学院过程工程研究所
Affiliation1.中国科学院过程工程研究所
2.清华大学
First Author Affilication中国科学院过程工程研究所
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GB/T 7714
谢裕生,唐子龙,陈运法,等. Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能[J]. 无机材料学报,2002,17.0(004):811.
APA 谢裕生,唐子龙,陈运法,张中太,李英,&龚江宏.(2002).Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能.无机材料学报,17.0(004),811.
MLA 谢裕生,et al."Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能".无机材料学报 17.0.004(2002):811.
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