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统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用
张辉; 赵晓峰; 唐清; 李文超
2003
Source Publication中国粉体技术
Issue01Pages:18-20
Abstract利用计算机模式识别技术对Stober法的单分散二氧化硅微球制备工艺参数进行分析,给出了目标优化区,并利用模式逆映照对工艺参数进行了预报,通过实验验证了预报结果的可靠性。
Keyword统计模式识别 二氧化硅微球 单分散
Document Type期刊论文
Version出版稿
Identifierhttp://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/5525
Collection研究所(批量导入)
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GB/T 7714
张辉,赵晓峰,唐清,等. 统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用[J]. 中国粉体技术,2003(01):18-20.
APA 张辉,赵晓峰,唐清,&李文超.(2003).统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用.中国粉体技术(01),18-20.
MLA 张辉,et al."统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用".中国粉体技术 .01(2003):18-20.
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