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一种新的粒度仪——BI—XDC
马兴华; 黄滔; 尉俐; 李洪利
1992
Source Publication现代科学仪器
Issue03Pages:23-24
Abstract<正> 由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的X光扫描蝶式离心粒度仪(BIXDC),将颗粒粒度和粒度分布测量技术提高到一种新的水平。本文就该仪器的原理、设计特点和测量结果作一概述和评价。 1.前言在颗粒技术中,颗粒粒度的微小变化能够显著影响材料的性能和质量,所以粒度和粒度分布一向是颗粒物料的重要指标。在化工、冶金、材料、特种陶瓷、涂料等许多研究和生产领域中,大量的亚微米级颗粒正在迅速发展,人们需要性能更好的粒度测量仪器。由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的BI
Keyword粒度仪 Bi Xdc 粒度测量 亚微米级颗粒 颗粒粒度 颗粒技术 颗粒物料 粒度分布 特种陶瓷
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/8524
Collection研究所(批量导入)
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GB/T 7714
马兴华,黄滔,尉俐,等. 一种新的粒度仪——BI—XDC[J]. 现代科学仪器,1992(03):23-24.
APA 马兴华,黄滔,尉俐,&李洪利.(1992).一种新的粒度仪——BI—XDC.现代科学仪器(03),23-24.
MLA 马兴华,et al."一种新的粒度仪——BI—XDC".现代科学仪器 .03(1992):23-24.
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