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双晶X射线荧光光谱分析
李杜若; 胡洁雪; 黄鑫泉
1987
Source Publication化工冶金
Issue04Pages:76-79
Abstract本文讨论了双晶 x 射线荧光光谱仪的高分辨率原理。X 射线荧光通过双晶后,可使不同波长的谱线距离加大而谱线本身的形状变窄。从而使 x 荧光光谱法成为研究分子结构的最有效的方法之一。借它可以研究固体化学键的本质,测定原子的有效电荷,研究络合物结构,测定配位数和进行价态分析等。根据文献报导,已有人利用双晶 x 射线荧光光谱仪成功地测定了元素硫的价态,对于其他的元素的研究也正在进行中。
Keyword双晶 荧光光谱仪 有效电荷 荧光光谱分析 高分辨率 射线管 文献报导 电子跃迁 荧光光谱法 配位数
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/8937
Collection研究所(批量导入)
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GB/T 7714
李杜若,胡洁雪,黄鑫泉. 双晶X射线荧光光谱分析[J]. 化工冶金,1987(04):76-79.
APA 李杜若,胡洁雪,&黄鑫泉.(1987).双晶X射线荧光光谱分析.化工冶金(04),76-79.
MLA 李杜若,et al."双晶X射线荧光光谱分析".化工冶金 .04(1987):76-79.
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